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電阻率成像技術(shù)在不良地質(zhì)探測中的 應(yīng)用研究
針對城市地下勘察孔位難以布置、孔數(shù)無法密布涵蓋全部，對地下不良、空洞、松 散等地質(zhì)條件難以判定等問題展開研究，提出采用電阻率成像探測法對地下不良 土體進行測探，以實際工程為例，論述該方法的探測原理，對探測結(jié)果進行技術(shù)分 析，提出解決方案。
關(guān)鍵字：
電阻率成像；探測；不良土體；地下勘察；地質(zhì)條件
作者：
崔愛珍， 高丙山
年份/刊期/頁碼：
《天津建設(shè)科技》—欄目：建筑工程—2020（5）：59-61
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